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仪(yi)表调试过程中，在(zai)熟悉工(gong)况后，应检(jian)查(cha)仪表(biao)的(de)设置参数。优(you)选射(she)频(pin)导(dao)纳(na)物(wu)位(wei)计包(bao)括(kuo)基(ji)本参(can)数如天(tian)线的类(lei)型、尺寸、材质，罐(guan)子高度、形状(zhuang)、类型，罐底(di)类型，罐内(nei)环境(jing)等。高(gao)级参数有信号幅(fu)值的门限值、上(shang)盲区、下(xia)盲(mang)区、满(man)灌处(chu)理、空罐处理(li)、罐底可见(jian)性、表面(mian)回波(bo)跟踪设(she)置(zhi)等。优选(xuan)射频导纳物位计在满罐或(huo)空(kong)罐时如果出(chu)现(xian)故障，则(ze)根据(ju)情(qing)况(kuang)，调整(zheng)相(xiang)应(ying)参数(shu)即可排(pai)除(chu)。

调(diao)频连续波雷达(da)物位计(ji)在测量过程(cheng)中(zhong)应用(yong)了(le)按(an)照线性(xing)变化的高频信号(hao)，优选射频导纳物位计的信号从天线发出，在被测(ce)量平(ping)面反射，回波被天线接(jie)收优选射频导纳物位计信号的发出与(yu)回波接收的频率(lv)差被(bei)用于进一步的信(xin)号处理，频率差(cha)对应于测量(liang)距离。一(yi)个(ge)大的频率差应对(dui)于一个较大的测量距离(li)。通过FFT频率差被转(zhuan)化为(wei)频谱差，进而(er)换算(suan)出测量距离。物位与测量距(ju)离的差别(bie)取(qu)决于(yu)空罐的高度。

导波式(shi)雷达料位计此为雷(lei)达料位计的一种(zhong)变型(xing)，通常采用脉(mai)冲波方式工作(zuo)。与雷达料(liao)位计不同(tong)微(wei)波脉冲不是通过(guo)空间(jian)传播(bo)，而是通过1根（或2根）从仓(cang)顶伸(shen)入、直(zhi)达仓底的导波体(ti)传播。优选射频导纳物位计导波体可以是金(jin)属硬杆或柔(rou)性金属缆绳，微波脉冲沿(yan)杆或缆的外(wai)侧(ce)向下传播，优选射频导纳物位计在被测物料表面被反射，回(hui)波被天线接收(shou)，由发射与回波脉冲(chong)的时间差即可(ke)计算出传播距离。

物料自然堆积(ji)会(hui)产生堆(dui)积倾(qing)斜，所以(yi)固体物料的料面是不(bu)平整的，很难明确(que)料位的准确高度；物料进出时，存(cun)在滞留区，影响(xiang)料位低(di)位置点的测量。优选射频导纳物位计料斗或储(chu)仓中，固(gu)体物料内部易(yi)存在大(da)的孔隙，形成拱(gong)桥(qiao)。粉(fen)料内部(bu)易存在小的间隙。前者影(ying)响对物料储量的计算，而后(hou)者则在振动(dong)或温度、压力变(bian)化时(shi)使物位也随之(zhi)变化(hua)。优选射频导纳物位计界(jie)面测量中常出现的问(wen)题(ti)是(shi)界面不明(ming)确，浑浊或泡沫的存在会影响测量结(jie)果(guo)。此(ci)外，容(rong)器内搅拌(ban)、管道(dao)和加(jia)热(re)等设备(bei)的存在也会对物位检测带来(lai)一定的影响，特别是像雷达波、超(chao)声(sheng)波这(zhe)些(xie)依赖(lai)回波信号测量的物位仪表。

关于泡(pao)沫对测量的影响，干(gan)泡沫和(he)湿泡沫能将雷达波反(fan)射回来，对测量无(wu)影响；中性泡沫则会吸收和扩散(san)雷达波，因(yin)而严重影响回波的反射甚(shen)至(zhi)没有回波。当(dang)介(jie)质表面为稠而厚(hou)的泡沫时，优选射频导纳物位计测量误差较大或无法测量，在这种工况下，优选射频导纳物位计不具有优势(shi)，这是其(qi)应用的局(ju)限(xian)性。